我们热爱生命科学!-生物行
当前位置: 主页 > 神经科学 > 研究进展

首批基因芯片出生缺陷基因诊断技术落户山西

时间:2012-11-19 12:44来源:山西新闻网   作者:未知 点击: 163次

    从山西省人口计生委科学研究所了解到,经过两年多的筹备,首批基因芯片出生缺陷基因诊断技术落户山西,该技术可在孕期诊断出400多种遗传学疾病。

  “该技术的引进可大幅降低我省出生缺陷发生率,减少缺陷儿的出生,减轻家庭和社会负担,对提高全省人口出生质量起到积极作用。”省人口计生委科学研究所所长郭兴萍介绍,这项技术对出生缺陷的检出率可达28%(传统的检查方法只有5-10%的检出率)。

  据了解,此技术由美国加州大学基因芯片临床诊断中心主任,省计生所科研顾问、美籍华人、知名科学家李新民博士带回家乡。李新民博士入选了我省首批“百人计划”。早在两年前,李新民博士曾两次来计生科研所进行讲学。

  此外,李新民博士还将第三代测序技术在我省推广。按照国际生物科学界的分类,第一代测序技术完成人的全基因组测序花费了10年的时间(2000年前后的人类基因组计划),第二代测序技术只需要10天时间,而李博士带来的最新科研理念——第三代测序技术只需要1天时间,甚至更短。

(责任编辑:泉水)
顶一下
(0)
0%
踩一下
(0)
0%
------分隔线----------------------------
发表评论
请自觉遵守互联网相关的政策法规,严禁发布色情、暴力、反动的言论。
评价:
表情:
用户名: 验证码:点击我更换图片
特别推荐
推荐内容